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賽黙飛世爾量色散X熒光光譜儀(原美國熱電)(ED XRF)

賽黙飛世爾量色散X熒光光譜儀(原美國熱電)(ED XRF)

產品時間:2022-06-09

簡要描述:

賽黙飛世爾量色散X熒光光譜儀(原美國熱電)(ED XRF) 窗超高通量RH靶,76um鈹窗,空氣冷卻的大面積高厚度硅鋰Si(Li)檢測器,全數字化譜分析器 32bit 4096通道,高穩定性:RSD<0.3% 8小時,檢測元素:F~U

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賽黙飛世爾量色散X熒光光譜儀(原美國熱電)(ED XRF)儀器介紹      

 

*端窗超高通量RH靶,76um鈹窗,空氣冷卻
*的大面積高厚度硅鋰Si(Li)檢測器
*賽黙飛世爾量色散X熒光光譜儀(原美國熱電)(ED XRF)擁有全數字化譜分析器 32bit 4096通道
*高穩定性:RSD<0.3% 8小時 
*檢測元素:F~U

 

技術參數

 

 

樣品室:樣品類型 固體、粉末、液體、濾渣、鍍層和其它 
尺寸 30.5cm(w)x38.9cm(D)x6.6cm(H) 
增高室(選購件): 21.5cm或37.1cm 
單位盤 樣品可大至樣品室大小 
10位盤(選購件) 帶自轉機構,樣品可大至47mm 
20位盤(選購件) 樣品可大至31mm 
自動和手動盤 為特種樣品的樣品盤,選購件 
環境 空氣、真空(選購件)和充氦(選購件) 

激發(核心元件):
X-光管:超高通量,端窗,RH靶,76um鈹窗,空氣冷卻,其它靶可選 
X-光發生器 4-50KV,1KV間隔。O.02-2.OmA,0.02mA 間隔 
濾光片 7種濾光片加1空位,自動選擇 
準直器(選購件) 1.0、2.0、3.5、6.8和8.8 五種 

X射線檢測配置器(核心元件) 
類型:Si(Li)硅鋰
晶體面積: 
Si(Li)面積15mm²,分辨率<155 eV 
Si(Li)LN Si(Li)面積30mm²,分辨率<149 eV 
晶體厚度: 3.5mm
檢測元素:F~U

制冷方式:電致冷/液氮致冷 
穩定性:RSD<0.3% 8小時
靈敏度:Fe, Pb <3pmm(油)
再現性:RSD<0.3%/1x10負6次方計數

譜處理器(核心元件)
處理器類型:全數字話 32bit 3 DSP
譜通道:2048 20eV/通道
修正時間:1~40ms, 用戶選擇
計數率:>100,000cps (live)
能量范圍:400~4096eV
死時間影響:<3.0%
重疊校正:<0.3%
能量校正:軟件自動

尺寸和重量 
外形尺寸 寬71.88cm,高41.15cm,深59.18cm 
重量 90.7kg 

使用要求 
電源 100、115或230VAC,50或60hz,功率1000W,真空泵需2000W 
遙控診斷和遙控監測需要通過因特網連線 

環境要求 
溫度 O~32℃ 
濕度 20~80%RH(無冷凝水) 

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